四探針測(cè)試臺(tái)是四探針法測(cè)試電阻率/方阻測(cè)試系統(tǒng)的配套部件。測(cè)試臺(tái)一般用來裝夾四探針探頭，放置待測(cè)樣品，便于快捷穩(wěn)定的測(cè)試；對(duì)于特殊樣品如粉末，特殊要求如橡塑材料，兩探針測(cè)試法，四探針測(cè)試臺(tái)與四探針探頭合二為一，演變成四端子測(cè)試法。應(yīng)根據(jù)樣品的特性和測(cè)試要求選擇測(cè)試臺(tái)，

詳情請(qǐng)見 表3《四探針測(cè)試臺(tái)型號(hào)規(guī)格特征選型參照表》

序號(hào)	測(cè)試臺(tái)型號(hào)名稱	特征圖片	規(guī)格參數(shù)	適用場(chǎng)合
1	SZT-A型四探針測(cè)試臺(tái)		直徑：Φ15～130mm 高度：H≤100mm 軸向、徑向均可	手動(dòng)式測(cè)試，一般樣品和要求
2	SZT-B型電動(dòng) 四探針測(cè)試臺(tái)		直徑：Φ15～180mm 高度：H≤100mm 軸向、徑向均可	自動(dòng)/手動(dòng)一體化功能，特別適用于初次接觸此類儀器，對(duì)測(cè)試壓力難以手工掌握，易損壞樣品的場(chǎng)合。
3	SZT-C型快速恒壓四探針測(cè)試臺(tái)		直徑：Φ15～180mm 高度：H≤100mm 軸向、徑向均可	手動(dòng)式測(cè)試，SZT-A型改進(jìn)版，測(cè)試壓力可調(diào)并保持恒定，快速操作。
4	SZT-D型粉末電阻率四探針測(cè)試臺(tái)		試樣容器內(nèi)徑S=1.0cm² 高度：0～20mm可調(diào) 壓強(qiáng)量程：0～20Mpa,,	四端子法測(cè)試粉末電阻率的*配套單元.
5	SZT-E型四端子半導(dǎo)體材料電阻率測(cè)試臺(tái)		直徑：D≤Φ100mm 高度：H≤50mm 取樣壓力：000.0～2000.0Kg	四端子法測(cè)試固體樣品軸向電阻率的*配套單元
6	SZT-F型光伏電池片電阻率方阻測(cè)試臺(tái)		測(cè)試壓力400～600g 矩形片W×H=175mmX175mm,或Φ175mm，厚度尺寸：不調(diào)整≤2mm,調(diào)整后≤10mm	光伏電池片方阻、電阻率的專業(yè)配套測(cè)量裝置
7	SZT-G型橡塑材料電阻率方阻測(cè)試臺(tái)		厚度d<10mm,寬w<50mm ⑴電壓刀片間距：20mm，刀長(zhǎng)60mm ⑵電流刀片間距： 70mm，刀長(zhǎng)60mm	四端子測(cè)量原理的專業(yè)測(cè)量橡塑材料或半導(dǎo)體薄膜的電阻率/方阻的多用途綜合測(cè)量裝置.
8	SZT-H型金屬質(zhì)量電阻率測(cè)試臺(tái)		測(cè)量膜寬：1mm≤B≤50mm⑴電壓刀片間距：150mm刀刃長(zhǎng)60mm⑵電流刀片間距：300mm刀刃長(zhǎng)60mm	專業(yè)測(cè)量金屬箔類（質(zhì)量）電阻率/方阻的多用途綜合測(cè)量裝置。
9	SZT-K1型兩探針電阻率測(cè)試臺(tái)		兩探針針距：10mm,15mm,20mm可調(diào)可測(cè)樣品：直徑圓截面≤ Φ50mm，或方截面邊長(zhǎng)≤50mm×50mm。長(zhǎng)(或高)度:兩端面頂持方式L≤420mm, 側(cè)面夾持方式不限	進(jìn)行兩探針法電阻率測(cè)試的機(jī)具。