環(huán)境可靠性試驗(yàn)是為了評估產(chǎn)品在規(guī)定的壽命期間內(nèi)，在預(yù)期的使用、運(yùn)輸或儲存等所有環(huán)境下，保持功能可靠性而進(jìn)行的的活動，是產(chǎn)品在規(guī)定環(huán)境條件下和規(guī)定時間內(nèi)，完成規(guī)定功能的能力。簡單來說就是模擬各種大自然環(huán)境測試產(chǎn)品耐受各種環(huán)境的程度，用于檢測產(chǎn)品保證可靠度確保改善產(chǎn)品質(zhì)量、提高可信度。通過環(huán)境試驗(yàn)，可發(fā)提供設(shè)計(jì)質(zhì)量和產(chǎn)品質(zhì)量方面的信息，是質(zhì)量保證的重要手段。

氣候環(huán)境試驗(yàn)包括高溫試驗(yàn)、低溫試驗(yàn)、溫度快速變化試驗(yàn)、溫度沖擊試驗(yàn)、恒定溫濕度試驗(yàn)、溫濕度循環(huán)試驗(yàn)、鹽霧試驗(yàn)、防水防塵試驗(yàn)、紫外老化試驗(yàn)等。接下來小編就帶大家一起來了解一下常見的氣候環(huán)境試驗(yàn)。

一、高溫試驗(yàn)，高溫試驗(yàn)主要用來檢驗(yàn)產(chǎn)品在高溫條件的持續(xù)工作或存儲的性能。任何產(chǎn)品都會經(jīng)歷高溫，差異只是高溫的溫度高低，而高溫對于電子產(chǎn)品的穩(wěn)定性和性能有著巨大的影響，所以高溫試驗(yàn)環(huán)境試驗(yàn)中最常見的試驗(yàn)項(xiàng)目之一。

二、低溫試驗(yàn)，低溫試驗(yàn)主要是用來檢驗(yàn)產(chǎn)品在低溫條件的持續(xù)工作或存儲的性能。電子產(chǎn)品在低溫下會出現(xiàn)參數(shù)漂移，進(jìn)而影響產(chǎn)品的功能。通常低溫對產(chǎn)品的影響更多是在上電成功率，通常開機(jī)后由于電子產(chǎn)品功能影響很小。低溫試驗(yàn)同樣也是環(huán)境試驗(yàn)中最常見的試驗(yàn)項(xiàng)目之一。

三、溫濕度試驗(yàn)，在任何自然條件下都存在，濕氣會導(dǎo)致生銹，短路等現(xiàn)象。由于在任何環(huán)境下存在濕氣，所以相應(yīng)的溫度試驗(yàn)就非常必要。溫濕度試驗(yàn)同樣也是環(huán)境試驗(yàn)中常見的試驗(yàn)項(xiàng)目之一。

四、溫度沖擊試驗(yàn)，在日常生活中從室內(nèi)到室外、在冬天和夏天都會存在溫度差，這就是最典型的溫度沖擊試驗(yàn)。實(shí)際生活中的溫度沖擊并不是特別嚴(yán)格，但是由于經(jīng)常出現(xiàn)，相應(yīng)的就需要模擬此使用條件開展對應(yīng)的環(huán)境試驗(yàn)。溫度沖擊試驗(yàn)同樣也是環(huán)境試驗(yàn)最常見的試驗(yàn)項(xiàng)目之一。

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