AM-7000系列 白光干涉測厚儀
- 公司名稱 廣東森德儀器有限公司
- 品牌 優(yōu)可測
- 型號 AM-7000系列
- 產地
- 廠商性質 代理商
- 更新時間 2025/3/18 15:15:02
- 訪問次數(shù) 514
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電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀ICP-OES/ICP-AES，超聲波探傷儀，傅里葉變換紅外光譜儀FITR，熱重分析儀，實時活細胞成像系統(tǒng)，手持光譜儀，直讀光譜儀，紫外分光光度計，核酸提取儀
| 產地類別 | 國產 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 綜合 |
精確捕捉超高精度微觀3D形貌的能力
AM-7000系列 白光干涉測厚儀可用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級別測量，以“面”的形式獲取表面3D形貌
通過專用軟件對3D形貌進行處理和分析，最高RMS重復性可達0.002nm
超高速極大提高測量效率，可用于自動化產線
AM-7000搭配大量程高速納米壓電陶瓷器件，最高掃描速度400μm/秒，3200Hz加以業(yè)內SST+GAT算法，可瞬間完成最高500萬點云采集
大視野高精度大視野、大范圍測量
白光干涉原理通過光干涉相位計量
任意放大倍率下均可獲得<1nm的檢測精度
豐富的測量工具從容應對各種行業(yè)應用
涵蓋市場上通用的國際標準測量工具，高效率輕松分析3D數(shù)據(jù)
精確捕捉超高精度
微觀3D形貌的能力
AM-7000系列 白光干涉測厚儀可用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級別測量，以“面”的形式獲取表面3D形貌
通過專用軟件對3D形貌進行處理和分析，最高RMS重復性可達0.002nm
相移干涉法使用特定波長范圍內的光源來確認目標面反射光和參考面反射光之間的光干涉。目標面的反射光和參考面的反射光之間的相位為0,距離參考面的高度為h,則
O=4h/λ。借助相位測量法，使用壓電陶瓷移動測量面的光路，計算以1/4波長移動光路時獲得的多個干涉條紋的相位差(O),然后將其轉換為高度h。
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